比表面積孔徑的測(cè)量分析方法適用產(chǎn)品多:包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。功能強(qiáng)大,包含目前所有的數(shù)據(jù)處理方法:?jiǎn)吸c(diǎn)和...
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比表面積孔徑的測(cè)量分析方法適用產(chǎn)品多:包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。功能強(qiáng)大,包含目前所有的數(shù)據(jù)處理方法:?jiǎn)吸c(diǎn)和...
查看詳情白炭黑比表面積分析儀適用產(chǎn)品多:包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。功能強(qiáng)大,包含目前所有的數(shù)據(jù)處理方法:?jiǎn)吸c(diǎn)和多點(diǎn)B...
查看詳情比表面積測(cè)試分析儀適用產(chǎn)品多:包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。功能強(qiáng)大,包含目前所有的數(shù)據(jù)處理方法:?jiǎn)吸c(diǎn)和多點(diǎn)BE...
查看詳情絕緣套管工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種先進(jìn)的測(cè)量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗(tgδ)和電...
查看詳情電力電纜工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種先進(jìn)的測(cè)量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗(tgδ)和電...
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查看詳情比表面積及孔徑測(cè)量?jī)x原理。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-p...
查看詳情單點(diǎn)比表面積及孔徑測(cè)量?jī)x。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-p...
查看詳情比表面積及孔徑測(cè)量分析方法。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-...
查看詳情比表面積及孔徑測(cè)定儀k值標(biāo)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as...
查看詳情有機(jī)物比表面及孔徑測(cè)定儀適用產(chǎn)品多:功能強(qiáng)大,包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。
查看詳情比表面積孔隙率測(cè)試分析儀吸、脫附等溫線分析。BJH中孔和大孔的孔體積,孔面積對(duì)孔徑的分布,總孔體積等??梢约觮-plots微孔分析,as-plots微孔分析,MP微孔分析等??梢赃M(jìn)行微孔DR理論、HK...
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查看詳情高分子比表面積及孔徑測(cè)試儀適用產(chǎn)品多:包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。
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